破坏法测厚仪库仑测厚仪

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	PIG455涂层测厚仪 P.I.G455	PIG455涂层测厚仪为一漆膜检测仪器，涂层测厚仪适用于常规的电磁测量技术不能工作的情况。主要测量木头、混凝土、塑料和其它非金属基材上的涂层。范围0~2000微米
	测厚仪 518S	518S漆膜检验仪符合标准的楔形切割方法，在这种情况下，样板以一个规定的角度被切割。通过切割面的投影宽度利用简单的几何关系可计算出涂层的厚度。518S将涂层的破坏控制为一个非常小的锥形孔。在测量显微镜中，可见一系列的同心圆，使用测量显微镜可测量到的同心圆的直径差异，再乘以一个已知系数便可计算出膜厚。测厚仪范围0~1000微米
	QDX漆膜多用检测仪 QDX	QDX漆膜多用检测仪执行标准：GB/T9286-88；GB/T134522-92；GB/T9275-88 QDX漆膜多用检测仪用于漆膜划格附着力，漆膜厚度，巴克霍尔兹压痕试验试验技术特征：集划格附着力，漆膜厚度和巴克霍尔兹压痕硬度三项试验功能于一体。
	CT-4型电解式镀层测厚仪 CT-4	CT-4型电解式镀层测厚仪可测金属镀层：金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、镉、锡、铅、铜、钴、镍、铁、双重镍、三重镍、黑铬可测合金镀层：锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金输出功能：可由打印机打印测量资料及统计，可由USB口连接电脑
	CT-3型电解式镀层测厚仪 CT-3	CT-3型电解式镀层测厚仪可测金属镀层：金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、镉、锡、铅、铜、钴、镍、铁、多重镍、黑铬可测合金镀层：锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金
	电解式镀层测厚仪 CT-2	电解式镀层测厚仪CT-2日本电测公司可测金属镀层：金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、镉、锡、铅、铜、钴、镍、铁、双重镍、三重镍、黑铬可测合金镀层：锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金输出功能：可由打印机打印测量资料及统计
	日本电测电解法测厚仪 CT-1	日本电测电解法测厚仪：可测量范围；0.006-300µm，除平面形状外,还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状，可测金属镀层：金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、镉、锡、铅、铜、钴、镍、铁、多重镍、黑铬可测合金镀层：锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金
	DJH-D/E/G 电解（库仑）测厚仪 DJH-D/E/G	DJH-D/E/G 电解（库仑）测厚仪，利用阳极溶解库仑法,符合ISO2177标准。可以测量铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉等金属镀层，镍合金镀层，复合镀层（如Cr/Ni/Cu）及多层镍镀层③ 。
	日本KETT TH-11库仑镀层测厚仪 TH-11 日本KETT	日本KETT TH-11库仑镀层测厚仪,镀层质量控制的必要性装运和接受检查研究和开发工具数据存储通过连接到个人计算机进行研究和编辑.
	3410 多用途干膜检验仪\|破坏式 3410	BYK-Gardner的3410 多用途干膜检验仪\|破坏式，可用于：在各种底材上（铁，非磁性金属，塑料，木材）测量厚度（测量范围2-2000µm）。
	PG-3430/3432多用途干膜检验仪 PG-3430/3432	PG-3430/3432多用途干膜检验仪:PG 3421 #1刀頭: 20...2000 μm;PG 3422 #2刀頭: 10...1000 μm;PG 3433 #3刀頭: 2...200 μm;PG3419 特殊刀頭: 1...100 μm;PG3420 特殊刀頭: 30...3000 μm.
	LEPTOSKOP涂层测量仪 LEPTOSKOP2017/2020/2025	LEPTOSKOP涂层测量仪袖珍式 LEPTOSKOP 系列涂层测量仪及其一体式探头已经成为世界范围内最轻便、最小巧、使用最简便的涂层测量仪之一，在世界范围内有极高的知名度。LEPTOSKOP 系列涂层测量仪拥有精确的测量技术，坚固耐用的轻量化设计，以及可随客户需要配置的数据传输接口及数据存储器。袖珍式 LEPTOSKOP 系列涂层测量仪-正如它的名称所说轻便的体积、最低的价格。
	LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042	LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪是德国卡尔德意志公司的创立者KARL DEUTSCH先生进行开拓性工作的结晶。自从1950年推出的第一台LEPTOSKOP及随后的研发工作，才有了目前的LEPTOSKOP 系列。 KARL DEUTSCH LEPTOSKOP 利用磁感应的方法确定铁磁基体上的非铁磁层的厚度。另外 LEPTOSKOP 可以利用涡流法测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
	Pocket-LEPTOSKOP 2026袖珍涂层测厚仪 Pocket-LEPTOSKOP 2026	德国卡尔德意志 Karl DeutschPocket-LEPTOSKOP 2026袖珍涂层测厚仪采用了铁基和非铁基两种探头，可以根据基体自动识别探头：可以利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。（非铁磁材料，例如：铝，铜，青铜，）也可以利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）确定铁磁基体上的非铁磁层的厚度。（铁磁材料，例如：钢，铁）
	LEPTOSKOP 2051涂层测量仪 LEPTOSKOP 2051	LEPTOSKOP 2051涂层测量仪新型的手持式操作终端LEPTOSKOP 2051,所有的PC-LEPTOSKOP探头可以不带PC操作：探头可简单的插入手持终端。LEPTOSKOP 2051有普通测厚仪具备的功能。这个仪器甚至可以单手操作。
	900系列日本覆层测厚仪日本Kett公司900系列	900系列日本覆层测厚仪，掌上型膜厚计，小巧、实用，用于无损、快速、精确的测量涂层、镀层厚度。采用磁性和涡流两种方式测量膜厚计。可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆）。
	Kett公司200系列涂层测厚仪 Kett公司200系列	日本Kett公司200系列涂层测厚仪，本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

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