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L160氧化膜测厚仪

]资料
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产品名称: L160氧化膜测厚仪
产品型号: L160
产品展商: 北京时代山峰科技有限公司
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简单介绍
美国LEE INSTRUMENTS公司生产的L160氧化膜测厚仪(涂层测厚仪)采用了世界先进的技术，是一种超小型涂层测厚仪，采用涡流法可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。

L160氧化膜测厚仪

的详细介绍
L160氧化膜测厚仪
1． 只需调零、无需校准；
2． NFe探头；（涡流法）
3． 一体化设计；
4． 自动关机；
5． 用户校验标准过程。

Lee Instruments 涂层测厚仪 L360/L200/L180/L170/L160技术参数

型号
L170
L200
L160
L180
L360
基体
Fe
Fe/NFe
NFe
Fe/NFe
Fe
显示
LCD显示
测量范围
0 — 1250um
0 — 1250um
0 — 200um
0 — 1250um
0 — 6000um
测量精度
（±1-3%H+1um）
显示精度
1um
工作温度
-10 — +60ºC
温度补偿
0 — +50ºC
最小基体
10mm×10mm
最小曲率
凸半径：5mm；凹半径：25mm。
最薄基体
Fe：0.2mm；NFe：0.05mm。
电源
7号电池4节
重量
82g（不含电池）
尺寸
112 ×69×28mm

 



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