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多层涂层基体测厚仪

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产品名称: 多层涂层基体测厚仪
产品型号: CMX2-DL/CMX3-DL
产品展商: 美国DAKOTA
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美国DAKOTA公司MX-3MX-5MMX-6PX-7超声波测厚...

简单介绍

美国DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超声波测厚仪，带A/B扫描功能，可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置，以获得更好的性价比。CMX2-DL为灰度显示屏，CMX3-DL彩屏显示。多层超声波测厚仪（基体和涂层）测厚仪，（多功能超声波测厚仪）多种测量方式：模式一：仅测量基体厚度模式二：仅测量涂层厚度模式三：同时测量基体和涂层的厚度。

多层涂层基体测厚仪

的详细介绍

美国DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超声波测厚仪，带A/B扫描功能，可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置，以获得更好的性价比。 CMX2-DL为灰度显示屏，CMX3-DL彩屏显示。   仪器特点 - - - - - - - - - 100MHz FPGA时序电路设计 可选彩色和灰度显示屏 A/B扫描 手动调节增益和自动增益控制 (AGC)，范围：110dB 自动时间相关增益(TDG) 多种测量模式 脉冲-回波(P-E)模式：测量材料厚度 脉冲-回波涂层(PECT)模式：同时测量材料和涂层厚度 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式：测量材料厚度 回波-回波(E-E)模式：穿过涂层测量材料厚度 回波-回波验证(E-EV)模式： 穿过涂层测量材料厚度 测量涂层(CT)模式：只测量涂层厚度 可接双晶探头和单晶探头(包括延迟块探头、接触式探头、笔形探头) USB Type-C数据接口 内置4GB SD存储卡
技术参数   测量   脉冲-回波(P-E)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢) 脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)，0.0254~2.54mm(涂层) 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围：0.63mm～30.48m(钢) 回波-回波(E-E)模式测量范围：2.54～152.4mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化) 回波-回波验证(E-EV)模式测量范围：2.54～102mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化) 测量涂层(CT)模式测量范围：0.0127~2.54mm(涂层) 分辨率：0.01mm 声速范围：309.88～18542m/s 单位：公制或英制 校准：一点和两点校准方式   显示   CMX2-DL显示屏：1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素。可视区62x45.7mm，EL背光； CMX3-DL显示屏：1/4英寸AMOLED彩色显示屏，320x240象素 A-扫描方式：检波+/-(缺陷视场)，RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏) B-扫描方式：基于时间的横截面视图。 显示速度为每秒10到200个读数 大数字方式：标准厚度显示，数字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL) 厚度条形扫描：速度33Hz，在B-扫描和大数字显示中可见 稳定度指示：表示测量值的稳定性 功能状态指示：显示当前激活的功能   超声波参数   测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 脉冲：可调方波脉冲发生器 接收：根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可调 计时：单次8位100MHz超低功耗数字化仪的**TCXO计时 脉冲重复频率：250Hz   探头   频率范围：1~20MHz 双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式) LEMO接口，1.2米探头线   存储   容量：内置4GB SD卡 数据结构：网格(字母数字)和顺序(自动识别) 截屏功能：位图图形捕获，用于快速记录 数据输出：通过USB Type-C连接的计算机   功能   设置：64个用户定义设置，用户也可编辑出厂设置 探头类型可选：内置双路误差校正，提高线性度 报警模式：上下限视听报警 快速扫描模式：每秒250个读数，当探头离开时显示*小值   其他   键盘：12个触摸键 电源：标配为三节5号碱性电池 ，可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电 外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装 工作温度：-10～60℃ 尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含电池385g 包装：ABS工程塑料箱 出厂证书：工厂校准可追溯到NIST和MILSTD-45662A标准     双晶探头    型号    频率    探头晶片直径    探头防磨面直径    测量范围    说明    T-102-2900    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm    标准CT探头(可测涂层厚度)    T-101-2900    5.0MHz    4.76mm    6.35mm    1.0～50mm    小管径CT探头    T-102-3300    7.5MHz    6.35mm    9.53mm    0.63～152mm    超薄探头    T-104-2900    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm    超厚CT探头    T-042-2000    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm    标准高温探头，*高340℃    T-044-2000    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm    超厚高温探头，*高340℃    T-212-2001    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm    超高温探头，*高480℃    T-214-2001    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm    超厚超高温探头，*高480℃ 注：测试高温表面时需用高温耦合剂   单晶探头    探头型号    频率    描述    说明    T-402-5507    15MHz    晶片Ø6.35mm    标准延迟块探头    T-402-6507    20MHz    晶片Ø6.35mm    延迟块探头    T-4903-2875    5MHz    晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm    接触式探头    T-4903-4875    10MHz    晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm    接触式探头    T-4023-2855    5MHz    晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm    接触式探头    T-4023-4855    10MHz    晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm    接触式探头    T-481-4507    10MHz    延迟块前端Ø1.59mm    笔式探头

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