TIME3200(TR200旧型号) 便携式粗糙度仪、光泽度仪是时代公司开发的又一个新品,该仪器适用于生产现场,增加测量平台和电脑可以扩展成台式粗糙度仪用于实验室测量。可测量多种机加工零件的表面粗糙度:平面、曲面、小孔、沟槽等不规则表面。根据选定的测量条件计算机相应的参数,在液晶显示器上清晰地显示全部测量结果及图形,并可在打印机上输出,亦可与PC机进行通讯。TR200 便携式粗糙度仪给出的参数符合GB/T 3505-2000《产品几何技术规范 表面结构 轮廓法 表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T 6062-2002《产品几何量技术规范 (GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性》。
测量原理:当测量工件表面粗糙度时,将传感器放在工件被测表面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度,此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例 模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统,DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算,测量结果在液晶屏上显示,并可在打印机上输出,亦可与PC机进行通讯。
图左上角为主机连接测量平台测量工件状态;
图右上角为主机连微型打印机测量工件状态;
图左下角为主机几种传感器TS100/120/110;
图右下角为主机立体顶部显示屏、操作按键;
产品概述:
TIME3200手持式粗糙度仪,根据选定的测量条件计算出相应的参数,在液晶显示器上清晰地显示全部测量结果及图形,并可在打印机上输出。亦可与PC机进行通讯,通过PC软件获得更丰富的测试结果分析及试验报告处理等。
产品用途:
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TIME3200手持式粗糙度仪, 多达13个粗糙度参数测量,可测量多种机加工零件的表面粗糙度。体积小巧,方便携带,适用于生产现场测量, 配合同多种选配传感器,更能实现曲面、小孔、沟槽、深槽等复杂表面粗糙度的测量。
功能特点:
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机电一体化设计,体积小巧,方便携带,适用于现场测量;
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多参数测量,可测量多种机加工零件的表面粗糙度;
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高精度电感传感器;
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符合ISO和GB标准,兼容DIN、ANSI、JIS标准。
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LCD液晶显示器,显示测量参数及图形;
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传感器触针位置指示;
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具有示值校准功能;
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高品质锂离子充电电池;
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标准RS232接口,可与PC机通讯;
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可连接专用打印机,现场打印。
技术参数:
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型号
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TIME3200
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测量参数
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Ra、Rz、Ry、Rq、Rt、Rp、Rv、Rmax、R3z、RSk、RS、RSm、Rmr
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测量范围
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Ra:0.025~12.5μm
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显示范围
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Ra、Rq:0.005~16μm,Rz、Ry、Rt、Rp、Rv、Rmax、R3z:0.02~160μm,RS、RSm:1mm,Rmr:0~100%(%Rt),Rsk:0~100%
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量程范围
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±20μm、±40μm、±80μm
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*高显示分辨率
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0.001μm
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滤波方式
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RC、PC-RC、GAUSS、D-P
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取样长度
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0.25mm、0.8mm、2.5mm、自动
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评定长度
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1L~5L(可选,L为取样长度)
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测量行程长度
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3L~7L(可选,L为取样长度)
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*大驱动行程长度
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17.5mm/0.71inch
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*小驱动行程长度
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1.3mm/0.052inch
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示值误差
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≤±10%
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示值变动性
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≤6%
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针尖角度
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90°
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显示方式
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128×64点阵液晶(带背光)
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工作环境
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温度:0ºC~40ºC,相对湿度:<90%
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重量
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440g
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外型尺寸
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140×52×48mm
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配置
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主机一台 TIMES100一支 试块一个 测试版 支架传感器护套 充电器 说明书 保修卡
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主机配标准传感器后的便携测量状态
其它可选附件:
传感器主要技术参数
TS100标准传感器;(可测量平面、圆轴;测量孔内表面时,孔直径大于5mm,深22mm,直径大于10mm时,深66mm) ;
TS110曲面传感器;(可测量曲率半径大于3mm的凸凹面工件的表面,配合TA620平台使用) ;
TS120小孔传感器;(可测量平面、圆轴;测量孔内表面时,孔直径大于2mm,深9mm,直径大于10mm时,深66mm) ;
TS131深槽传感器 ;(可测量平面、圆轴;可测量槽宽大于3mm,槽深小于10mm,或高度小于10mm的台阶的表面粗糙度) ;
TS130沟槽传感器;(可测量平面、圆轴;可测量槽宽大于2mm,槽深小于3mm,或高度小于3mm的台阶的表面粗糙度) ;
TA620测量平台 TA610测量平台 TA630微调平台 TA631微调平台
TA220s打印机 TA210打印机 磁性表座连接轴 PC软件(DataViewforTR200) 延长杆 侧向转接杆 连接体部件
可选的传感器类型(用于特殊表面的测量时选用)
微调平台TA630、支架测量平台TA620(用于微小复杂工件的定位测量时选用)