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GALVANOTEST 3000 库仑镀层测厚仪
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产品名称:
GALVANOTEST 3000 库仑镀层测厚仪
产品型号:
GALVANOTEST 3000
产品展商:
德国EPK
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简单介绍
德国EPK(Elektrophysik)公司GALVANOTEST 3000 库仑镀层测厚仪，应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。
GALVANOTEST 3000 库仑镀层测厚仪
的详细介绍
德国EPK(Elektrophysik)公司GALVANOTEST 3000 库仑镀层测厚仪，应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。
测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属，而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠，仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成，操作者不需要专业知识。
库仑法又是能够测量复合镀层、多层镀层的方法。例如测量在铁上依次镀上的铜、镊、铬等。
GALVANOTEST 3000保证所有测量和统计数据**可靠，可打印数据和电压特征曲线。
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说明
GALVANOTEST库仑测厚仪由三大部分组成：
1、测量杯
根据仪器型号不同，电解液由气泵或循环泵驱动，在测量杯中流动，保证测量区域平稳除镀，保证电解液佳利用。对导线或小零件，还可以选用电解杯，测量时把它们浸入电解液中。
2、支架
用支架固定被测样品，将测量杯和被测样品准确定位。循环泵连接支架和测厚仪。
3、仪器
由微处理器控制的测厚仪可以测量多种镀层厚度。利用仪器的键盘调整仪器完成各种不同的测量任务。
GALVANOTEST3000库仑镀层测厚仪测量原理
根据法拉第原理测量。其过程类似于电镀，但化学反应的方向正好相反，是电解除镀。按照镀层/基体的组合，选择电解液注入电解池。将电解液置于被测样板。电解池和被测样板之间嵌入密封垫圈，其作用一是确定测量面积，例如1mm2，二是防止电解液外泄。电流通过电解液，在一定的面积下产生电化学反应。镀层厚度就直接显示在数字显示器上。
GALVANOTEST3000库仑镀层测厚仪技术参数
测量范围：0.05～75μm
可以测量70种以上的镀层/基体组合
可以测量平面、曲面上的镀层
可以测量小零件、导线、线状零件
预置10种金属的测量参数：Cr铬、Ni镊、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn锡、Pb铅、Cd镉、Au金
用户可另设8种金属的测量参数
测量面积：0.25/4/8mm2
存储：2000个读数和统计值
统计功能：平均值、标准偏差、变异系数、大、小、读数个数
接口：RS232接口可连接计算机和打印机
电源：220V/60Hz/10W |
库仑镀层测厚仪GALVANOTEST
• 可测实际应用的所有镀层
• 利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层
• 符合国际标准：DIN EN ISO 2177
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库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 可以测量
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2000
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3000
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可以测量70种以上镀层/基体组合
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可以测量平面、曲面上的镀层
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可以测量小零件、导线、线状零件
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预置10种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉、Au金（需提供样品确定）
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预置9种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。
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用户可另设置8种金属的测量参数
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用户可另设置1种金属的测量参数
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库仑镀层测厚仪测量机构：
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带循环泵
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带气泵
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库仑镀层测厚仪测量面积：
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密封垫 8 mm2
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密封垫 4 mm2
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密封片 1 mm2
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密封片 0.25 mm2（涂镀层面积几乎小得看不见）
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电解杯 0.25-16 mm2 （可选件）
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库仑镀层测厚仪测量参数优化调整：
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除镀速度0.3-40 μm/分钟可调
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根据金属和测量表面可直接调整系数
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可用厚度标准样板校准
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可调整终点电压，以抗干扰，适应镀层/基体之间的合金
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GALVANOTEST的数据存储
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可存储不同金属测量参数的数目
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10
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18
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可存储的读数和统计值
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2000
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2000
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仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。
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库仑镀层测厚仪统计计算：
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显示6种统计值：均值、标准偏差、变异系数、大、小值、读数个数
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立即或稍后显示统计值
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立即或稍后打印读数和统计值
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显示、打印年、月、日、时、分
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用于外设的计算机接口：
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MINIPRINT 微型打印机接口
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RS-232，PC计算机接口
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连接x-t计录仪模拟电压输出接口
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电解液饱和报警指示
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测量的不确定性：
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5%，在8mm2面积下，经校准
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库仑镀层测厚仪电源：
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110/220V，50/60HZ，10W
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测量范围：
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大测量范围：0.05-75μm
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