SV-2100表面粗糙度仪利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的绘图指令符号即可。
特点
显示一目了然，操作简单。
配备高可见度7.5英寸TFTLCD屏幕。彩**标显示、触控式面板，显示更清晰，操作更简单。
轻松定位使用专用控制器内置的操纵杆，轻松、快速地定位。小孔内侧的测量，需要对微小测头进行微调。利用手动手柄，实现轻松微调。
轻松设置表面粗糙度的测量条件。利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的绘图指令符号即可。
技术参数:SV-2100
X轴(驱动部)
测量范围:100mm
分辨率:0.05μm
检测方法:线性编码器
驱动速度:0-40mm/s
测量速度:0.02-5mm/s
移动方向:向后
直线度:0.15μm/100mm
Z2轴(立柱)
类型:手动操作或电驱动
垂直移动:350mm或550mm*
分辨率*:1μm
检测方法*:旋转编码器
驱动速度*:0-20mm/s
*仅适于电驱动型
检测器
范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm
检测方法:无轨／有轨测量
测力:4mN或0.75mN(低测力型)
测针针尖:金刚石、90o/5μmR
(60o/2μmR:低测力型)
导头曲率半径:40mm
检测方法:差动电感式
控制器
显示:7.5"带背光的TFT彩显
打印机:内置热敏打印机
放大倍率:水平:X10至X500,000、自动
垂直:X0.5至X10,000、自动
驱动装置的控制:通过操纵杆手动手柄的操作
评估能力
评估轮廓
P(主轮廓),R(表面粗糙度轮廓),WC,WCA,WE,WEA,包络
残余线、粗糙度motif、波形motif
评估参数
Ra,Rc,Ry,Rz,Rq,Rt,Rmax,Rp,Rv,R3z,Sm,S,Pc,mr(c),?c,mr,
tp,Htp,Lo,Ir,Ppi,HSC,?a,?q,Ku,Sk,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,
A1,A2,Vo,?a,?q
粗糙度motif参数:R,AR,Rx
波形motif参数:W,AW,Wx,Wte
分析图表
ADC,BAC,功率谱图
数显滤波器
2CR-75%,PC-75%、高斯滤波器、鲁棒样条
截止波长
0.25μm,0.8μm,2.5μm,8μm,25μm,250μm、无滤波器
0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm、无滤波器
采样长度(L)*
0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm,80mm
(仅适于SV-2100)
数据补偿功能
抛物线补偿、双曲线补偿、椭圆补偿、R平面(曲面)
补偿、锥面补偿、倾斜补偿
*在0.02mm至50mm的范围内可指定任意长度。
性能参数：
型号 |
SV-2100M4
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SV-2100M4
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货号*(mm)
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178-636-01
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178-636-02
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货号*(inch)
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178-637-01
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178-637-02
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检测器测力
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0.75mN
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4mN
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X轴测量范围
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100mm
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垂直移动
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350mm电动立柱
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花岗岩基座尺寸(WxD)
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600x450mm
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尺寸(主机、WxDxH)
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716x450x863mm
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重量
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144kg
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